Для посетителей в Electronica 2024

Забронируйте свое время!

Все, что нужно, это несколько кликов, чтобы зарезервировать свое место и получить билет на стенд

Зал C5 стенд 220

Предварительная регистрация

Для посетителей в Electronica 2024
Вы все зарегистрируетесь! Спасибо, что назначили встречу!
Мы отправим вам билеты на стенд по электронной почте, как только мы подтвердим ваше бронирование.
Главная > Продукты > Интегральные схемы (ICs) > Логика - специальности логика > SN74BCT8373ADWR
RFQs/ORDER (0)
русский
русский
6646755

SN74BCT8373ADWR

Онлайн - запрос

Пожалуйста, заполните все необходимые поля с вашей контактной информацией. Нажмите «Отправить RFQ». Мы свяжемся с вами в ближайшее время по электронной почте.Или напишите нам:info@ftcelectronics.com
Запрос онлайн
Спецификация
  • Тип продуктов
    SN74BCT8373ADWR
  • Изготовитель / Производитель
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Количество запасов
    Быть в наличии
  • Описание
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Статус бесплатного свидания / Статус RoHS
    Без свинца / Соответствует RoHS
  • Напряжение питания
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Поставщик Упаковка устройства
    24-SOIC
  • Серии
    74BCT
  • упаковка
    Tape & Reel (TR)
  • Упаковка /
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Рабочая Температура
    0°C ~ 70°C
  • Количество битов
    8
  • Тип установки
    Surface Mount
  • Уровень чувствительности влаги (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Тип логики
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Статус бесплатного свидания / Статус RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • Подробное описание
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Номер базового номера
    74BCT8373

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Перевозки
Оплата
Ниже приведены продукты, связанные с SN74BCT8373ADWR.
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Описание: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Описание: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Описание: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Описание: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Описание: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Описание: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Описание: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Описание: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Описание: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Описание: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Описание: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Описание: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Описание: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Производители: Luminary Micro / Texas Instruments
Быть в наличии
RFQ
Будучи единственным публичным дистрибьютором открытого рынка, мы обладаем уникальным сочетанием глобального доступа, экспертизы производственной отрасли и проверенного качества.При этом мы можем создать индивидуальные, сквозные решения для цепочки поставок для компонентов электроники поставки и управления запасами.
Следить за нашим сайтом
Условия и условияПолитика нарушенияЗапрос цитатыО насСвязаться с намиКарта сайта

Выберите язык

Нажмите на пространство, чтобы выйти

Текущий язык

Выберите свою страну или регион.